使用圖像分析設備Mac-View Version.5進行粉末測量的好處

發布日期：2025-01-10 瀏覽次數：549

使用圖像分析設備Mac-View Version.5進行粉末測量的好處

結合各種識別工具，測量分析各類顆粒物

通過讀取SEM、TEM等拍攝的圖像并識別目標顆粒，自動計算粒徑分布并將顆粒形狀數字化。
通過使用手寫板的手動分析工具，可以輕松識別形狀復雜的顆粒和團聚顆粒。

Mac-View Version.5 中的新功能和改進

?在粒子獲取模式中添加了“針狀"

?提高自動識別處理速度
?提高自動識別精度
?符合JIS8827-1（2018）

■凝集粒子的一次粒徑分析

現在可以評估聚集顆粒的初級粒徑，這在以前是很困難的。

■納米粒子的評價

只要尺度信息可用，無論顆粒大小如何，都可以進行分析。

■多邊分析評估

可以自動測量粒度分布并分析顆粒形狀（圓形度、長徑比等）。此外，可以獲得豐富的數據，從而可以評估聚集顆粒的初級顆粒。

■操作方便

它不需要任何特殊知識，并且易于操作，因此不需要操作人員任何技能水平。

■無需昂貴的資金投入

只要您準備好圖像（jpeg、位圖），在 PC 上安裝軟件后即可立即使用。

納米粒子、凝聚粒子、顆粒、燒結體截面、乳液粒徑等

■綜合粉末分析軟件Mac-PIAS

Mac-PIAS是綜合性粉末分析軟件的新維度，可以集中管理和分析使用各種方法測量的“粒度分布數據"。

■篩分試驗數據分析軟件Macmesh

Macmesh 是一種工具，可以消除數據密集型篩分測試中的人為錯誤，并提高測試效率。

測量功能	面積、周長、長軸、短軸、最大長度、最小長度、海伍德直徑、圓周橢圓當量直徑、圓度系數、長寬比、形狀系數 1 至 3、費雷特直徑、馬丁直徑、克魯姆賓直徑、雙軸平均直徑、雙軸幾何平均直徑、雙軸調和平均直徑、長度等
分析功能	粒徑%、ON/PASS分析、體積/個數/長度轉換、峰值數據分析、匯總數據分析、粒徑分類轉換、篩上/下轉換、形狀因子分析、數據合成、數據分組
其他功能	各種圖形顯示功能、各種打印輸出功能、文本輸出功能、圖像輸出功能等
運行環境	●運行Microsoft Windows 7/8/10（32/64位兼容）的PC/AT兼容機 *如果使用Windows 7/8，請使用Windows Update安裝最新的更新程序。 ●USB 硬件密鑰，用于通過可用的 USB 端口進行許可證驗證（必需） ●連接掃描儀（兼容 TWAIN）和選購的液晶手寫板時，需要 USB 端口等接口 ●顯示：最高顯示全高清分辨率（1,920 x 1,080） ●CPU：根據操作系統要求試用（CPU 1 GHz或更高） ●內存：2GB 內部硬盤至少需要200MB 可用空間 ●安裝時需要 CD-ROM 驅動器
兼容標準	基于JIS Z8827-1

基本功能	數據轉換功能（根據數據文件格式可選）、數據搜索功能、統計處理功能、控制圖創建功能、累積/頻率圖顯示、匯總數據分析（10級%數據、MV、MN、MA、CS、SD等）、多種數據覆蓋、設定切換功能（粒度分級、篩頂篩底、體積/個數/面積/長度顯示切換）、多種圖形顯示功能、多種打印輸出功能
可選功能	Rosin/Ramler分析功能、對數正態分布切換功能、差異顯示功能、合成/逆合成比率推斷分析功能、峰值分割分析功能、自動通過/失敗判斷功能、創建各種數據轉換器
運行環境	運行 Microsoft Windows 7/8/10 的 PC/AT 兼容機（兼容 32/64 位） ●配備 USB 端口，可用作 USB 硬件密鑰，用于許可證認證（必需） ●CPU：操作系統要求（ CPU 1 GHz 或更高） ●內存：建議 2GB 或以上 ●內部硬盤至少需要 200MB 可用空間 ●安裝時需要 CD-ROM 驅動器

基本功能	自動數據導入功能、篩子信息注冊/調用功能、圖形顯示切換功能（篩頂/篩底、積分/頻率、對數常態、松香拉姆勒等）、控制值設置/通過/失敗判斷功能、篩孔校正功能、數據比較?覆蓋功能、各種報告打印輸出功能
兼容標準	JIS Z 8801/Z 8815
運行環境	運行 Microsoft Windows 7/8/10 的 PC/AT 兼容機（兼容 32/64 位） ●配備 USB 端口，可用作 USB 硬件密鑰，用于許可證認證（必需） ●CPU：操作系統要求（ CPU 1 GHz 或更高) ●內存：2GB建議如下： - 內置硬盤上至少需要 200 MB 的可用空間 - 安裝期間需要 CD-ROM 驅動器 - 與電子天平通信時需要 RS-232C 端口。數字）。